Automatyczne testowanie w mikroelektronice / Andrzej Sowiński ; [rozdz. 12 oprac. Marek A. Kubiś].

Опис

• Autor/twórca: Sowiński, Andrzej (1922-1996)
• Tytuł: Automatyczne testowanie w mikroelektronice / Andrzej Sowiński ; [rozdz. 12 oprac. Marek A. Kubiś].
• Miejsce i data wydania: Warszawa : 1991.
• Wydawca: Wydawnictwa Komunikacji i Łączności,
• Opis fizyczny: 432 s., [2] k. tabl. : fot., rys., wykr. ; 25 cm.
• Hasła przedmiotowe/Temat:
  • Komputeryzacja
  • Kontrola techniczna
  • Mikroukład elektromechaniczny
  • Podręczniki akademickie
• Klasyfikacja UKD: 621.3.049.77:621.317:681.322](075.8)
• ISBN: 8320609569